反接線法：（接線如圖五所示）
通電前，先將“試驗(yàn)電壓”開關(guān)置于“關(guān)”位置，將ＵＨ端子接地，將ＩＸ的芯線（有CX標(biāo)記）接至被試品CX的**。
通電后，按“反接”鍵，選好反接線方式；用“試驗(yàn)電壓”開關(guān)選好電壓；然后按“起動”鍵開始測試。
★★★特別注意：屏蔽“E”與ＩＸ電位接近，可接至被試品高壓端的屏蔽或者懸空，**不能接地?。?！。

外接高壓法：(接線如圖六所示)
CB為外接標(biāo)準(zhǔn)電容，CX為被試品。
當(dāng)被試品要求試驗(yàn)電壓大于１0ＫＶ時(shí)，可以外接高壓進(jìn)行測量，即不使用儀器內(nèi)部高壓變壓器，而外接一臺高壓裝置進(jìn)行測量。
★★★注意：外接高壓法進(jìn)行測量時(shí)，“試驗(yàn)電壓”開關(guān)必須置于“關(guān)”位置！?。?br />★★★外接高壓法時(shí)，應(yīng)外接標(biāo)準(zhǔn)電容器ＣB,不許使用儀器內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容器！??！
通電后，多次按“外接”鍵，選好外接線方式以及外接的標(biāo)準(zhǔn)電容容量，必須再將“試驗(yàn)電壓”開關(guān)置于“關(guān)”位置！調(diào)整好外接電壓，然后按“起動”鍵開始測試。
SXJS-IV型為中文液晶顯示，有中文漢字提示各類測試信息。當(dāng)測試完成后，可按“打印”鍵，打印測試結(jié)果。
六、保管免費(fèi)及免費(fèi)修理期限
儀器應(yīng)在原廠包裝條件下，于室內(nèi)貯存，其環(huán)境溫度為０－４0℃相對濕度為３0％－７0％，且在空氣中不應(yīng)含有足以引起腐蝕的有害物質(zhì)。儀器從冷環(huán)境突然到熱環(huán)境中時(shí)，可能有結(jié)露，應(yīng)等結(jié)露消失后再使用。每年應(yīng)打開儀器，**由于野外作業(yè)產(chǎn)生的灰塵，特別是內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)電容處的灰塵。
儀器和附件自制造廠發(fā)貨日期起１2個(gè)月內(nèi)，當(dāng)用戶在完全遵守制造廠使用說明書所規(guī)定的保管的使用條件下，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品制造質(zhì)量**或不能正常工作時(shí)，制造廠負(fù)責(zé)給予修理或更換。
七、儀器成套性
（１）介質(zhì)損耗測試儀 １臺
（２）專用測試線纜 ２根
（３）保險(xiǎn)絲（５Ａ） ４只
（０.５Ａ） ２只
（４）電源線 １根
（５）使用說明書 １份
（６）產(chǎn)品合格證 １份

附錄：抗干擾探討

（一）、干擾
以電容試品為例，當(dāng)工頻電壓加在電容上時(shí)，其上流過兩個(gè)電流（圖Ａ）：容性電流Ｉｃ和阻性電流Ｉｒ，合成為試品電流Ｉｘ。Ｉｃ和Ｉｒ形成的夾角δ即為介質(zhì)損耗角。當(dāng)干擾電流Ｉｇ流入試品時(shí)，與Ｉｘ合成為Ｉｇｘ，Ｉｘ與Ｉｇｘ之間的夾角β是由干擾電流Ｉｇ形成的。測量到的電流Ｉｇｘ與Ｕｃ的夾角是β＋δ與階損角δ相差很大。
（二）、方法
目前，智能介質(zhì)損耗儀通常采用的抗干擾方法主要有種：
（１）、移相法
方法是將加到試品上的測試電壓Ｕｒ移相，使Ｕｃ與Ｉｇ同相位（Ｕｒ與Ｕｃ恒定相差９0度）,從圖Ｂ中可見，測量到的電流Ｉｇｘ與有效的Ｉｘ相差不大（當(dāng)干擾電流較小時(shí)），如果能再反Ｉｇ方向?qū)ⅲ眨阋葡嘁淮?，兩次?shù)據(jù)合成即能準(zhǔn)確地找到階損角δ（即使干擾電流較大）。
（２）、變頻法
現(xiàn)場測量時(shí)通常使用工頻電源，而現(xiàn)場干擾主要也是工頻，同頻率的電源相互疊加形成干擾，去除無用的干擾而保留有用測試電流是非常困難的。用非工頻電源進(jìn)行測量，則工頻電源的干擾電流與測試電流由于頻率不同，是很容易區(qū)分開的。比如，將所含有干擾混合信號的前１0ｍＳ信號，與后１0ｍＳ信號相加，就去除了工頻干擾，而測量信號不是５0Ｈｚ所以得以保留。
（３）、波形分析法
計(jì)算機(jī)的運(yùn)用，使大量的工程分析計(jì)算變得方便，通過對現(xiàn)場干擾的大量采集分析，結(jié)合測量到的波形，運(yùn)用高等數(shù)學(xué)理論，巧妙地去除干擾，也同樣達(dá)到目的。甚至去除一、三、五次諧波也很方便。
（三）、要求
工程測量介質(zhì)損耗，通常要求能分辨出０.1％介損值是不過分的。
介質(zhì)損耗：ｔｇ（δ）＝０.1％＝０.00１
損耗角度：δ＝０.057°
對應(yīng)時(shí)間：Ｔ＝δ／360°×２0ｍＳ＝３.183μＳ
（四）、比較
干擾信號是由干擾源通過媒介施加到試品上，即使干擾源是恒定的，但傳輸媒介是空氣及其它絕緣體不是恒定介質(zhì)（圖Ｃ、圖Ｄ），所以干擾電流Ｉｇ方向隨機(jī)變化的程度≥０.057°不足為奇。要使測試電源隨時(shí)跟蹤Ｉｇ，而跟蹤角度誤差≤０．057°絕非易事。所以*終抗干擾雖然有效，但是測量精度不容易提高。
運(yùn)行的設(shè)備（試品）在工頻下運(yùn)行，要求知道在工頻條件下的介質(zhì)損耗。
理論上：介質(zhì)損耗＝２πｆＲＣ，（ｆ＝５0Ｈｚ）
所以用非工頻的ｆ＇電源加在試品上所測得的介質(zhì)損耗＝２πｆ＇ＲＣ，再由這一結(jié)果推算出２πｆＲＣ易如反掌。
然而運(yùn)行設(shè)備的等效Ｒ，不是理想的電阻，其中更多的是有極分子，其等效Ｒ隨頻率ｆ的變化而變化，所以盡管理論上介質(zhì)損耗與頻率成正比，而實(shí)際介質(zhì)損耗（２πｆＲＣ）不與頻率成正比。這給根據(jù)變頻２πｆ＇ＲＣ推算工頻２πｆＲＣ造成了麻煩。
為了減小這個(gè)非線性誤差，ｆ＇采用接近工頻的頻率，但過分接近等于沒有變頻，這就是主要矛盾。好在大多數(shù)試品對頻率的敏感沒有那么強(qiáng)烈。所以變頻法抗干擾是比較成功的。
產(chǎn)生一個(gè)有一定的功率，且又是正弦波的異頻電源有較大的難度。因?yàn)楫愵l電源波形的失真度對相角的影響很大，或者與實(shí)際工頻正弦波電源情況下所造成的介質(zhì)損耗有誤差。
為了去除接近ｆ＇工頻干擾，變頻法不得不處理大量的數(shù)據(jù)，所以相對測量時(shí)間較長。
(五）、SXJS-IV處理干擾的方法
測試電源采用工頻，使測量與實(shí)際一樣。交錯(cuò)分時(shí)測量干擾信號和綜合信號，將所有測到的信號都**地鎖定在與測試電源同步的０相位上，再將干擾信號倒相與綜合信號疊加得到有效信號。
在數(shù)字處理上，廣泛地采用數(shù)字與電子技術(shù)，剔除了相角相差１％的信號，剔除了數(shù)值較大的幾組信號，也剔除了數(shù)值較小的幾組信號，再將許多組中值信號求平均值得出結(jié)果，而每組信號都是由許多測量信號與處理后的干擾信號構(gòu)成的。在調(diào)試中所有數(shù)據(jù)都以６位有效數(shù)字計(jì)算。為了提高測量速度，采用雙計(jì)算機(jī)和高速并行Ａ／Ｄ轉(zhuǎn)換器處理信息，軟件全部用匯編完成。
對于強(qiáng)干擾信號較**地測出其大小不難，儀器特別設(shè)計(jì)的高精度相位鎖定器能將其準(zhǔn)確地定相，為完全消除干擾提供了便利；對于弱干擾信號粗略地測出其大小也是可以的，而相位鎖定器并不受測量信號的大小影響，仍然準(zhǔn)確定相，弱干擾本來對測量信號的影響就小，再粗略地去除其大部分，也可以認(rèn)為去除了干擾。
對于突發(fā)性干擾信號，儀器盡可能地將采樣的干擾數(shù)據(jù)廢除，或宣布測試失敗，以保證數(shù)據(jù)結(jié)果的可靠性。
實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)：用工頻５00Ｖ電壓加載５0ｐＦ電容，測量信號電流約８μＡ，無干擾時(shí)，快速測量測得介損為０.08％，抗干擾測量測得介損為０.08％；用２0000Ｖ工頻做干擾，距離被試品１0厘米，快速測量測得介損為１2.2３％，抗干擾測量測得介損為０.09％。